Физики из Университета штата Мичиган разработали новый метод анализа материалов, используемый в современных электронных устройствах. Новая методика, описанная в журнале Nature Photonics, объединяет микроскопию высокого разрешения с ультрабыстрыми лазерами.
Это позволяет ученым с высокой точностью обнаруживать чужеродные атомы в полупроводниках. . ferra.ru
2024-7-5 19:59